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公司新闻--TOFD检测技术的原理

TOFDTime of flight diffraction technique)衍射时差检测技术是利用衍射信号实施检测的一种方法。

TOFD检测技术是利用缺陷端点的衍射波信号检测缺陷、对缺陷定位、定量成像的监测实施成像技术,由于TOFD检测技术不以缺陷波幅作为评判依据,因此电工电子实验台缺陷的方向不影响定量精度。且与传统的超声检测技术根据反射信号检测缺陷,根据反射信号幅度评定缺陷的方法截然不同。理论上TOFD检测技术克服了常规超声波检测电工电子实训考核装置的一些缺点,电工电子实训考核装置缺陷的检出和定量不受声束角度、检测方向、缺陷表面粗糙度、工件表面状态及探头压力等因素的影响。

TOFD检测通常以一对晶片尺寸和频率等参数相同或相近的探头,分别置于焊缝两侧,依据惠更斯原理,入射波到达缺陷尖端后,缺陷尖端就是一系列新的衍射波源,同时仪器增益比超声波脉冲反射法高10~20dB,因此接收探头可以接收到来自各个不同方向的缺陷衍射波。

TOFD波形显示采用射频显示,可以找出缺陷波和侧向波的相位。电工电子实验台缺陷的相位、显示轮廓、缺陷所处的深度位置以及焊接结构是缺陷定性的重要依据,缺陷波幅也可以作为缺陷定性的一个因素,但不是主要因素。对缺陷深度和自身高度的测量是基于时间差法,也就是测量缺陷端部衍射点与侧向波的时间差,因此在深度方向上具有较高的准确性。








发布日期:2013/5/18 19:40:47  本条信息被浏览2553